pcb模块漏电,mlcc成罪魁祸首-凯发官网入口首页
章锐华,王君兆
(凯发官网入口首页-凯发一触即发,深圳宝安,518108)
【摘要】针对pcba模块漏电的情况,本文通过显微热红外测试(thermal emmi)定位失效位置为pcba模块上的某款型号陶瓷电容(mlcc),通过电性能测试、x-ray透视、切片分析和sem等分析手段查找失效原因,分析结果显示,导致pcba模块失效的原因为:电容介质层分层,由电容烧结工艺控制不良引起。
【关键词】mlcc漏电,介质层分层,烧结工艺不良
1、案件背景介绍
客户反馈其所设计的pcba模块(见图1)组装后出现漏电现象,导致模块供电电池的电量消耗过快,经初步排查,怀疑失效是由该pcba模块上型号为xxx的陶瓷电容漏电引起。
图1 失效样品
2、测试分析概述
本案首先通过电性能对比测试确认了模块的失效现象,即模块存在漏电失效;x-ray透视检测未发现明显失效点;thermal emmi(显微热红外测试)测试结果显示电容表面存在异常的热点(图4);对电容所在pcb区域进行剖面分析,去除pcb进行外观检查,结果显示电容表面存在横向裂纹(图5),同时排除了组装造成本案失效的可能性;电容在模块各状态(开机、关机和待机)下的电容两端电压信号捕捉证实了电容受到高压冲击的可能性较小;切片后的sem照片显示电容介质层分层较为严重。
图2 电性能测试和x-ray透视 | |
图3 thermal emmi定位发热点 | |
图5 确认电容失效 | 图6 电容端电压信号捕捉 |
图7 sem照片 |
3、结论
本案的失效现象为pcba模块漏电,失效产生的直接原因是模块采用的型号为xxx的陶瓷电容存在介质层分层,导致介质层分层的根本原因为电容烧结工艺控制不当,与pcba的设计和组装无关。
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